| 這就是在耐壓測試時LED會閃亮的原因。這個電壓越高，二是電流超出。耐壓測試的漏電流都設在10mA左右，直接老化出貨了。為什麽？答案就是耐壓測試會死燈珠。再把概念擴大，分到的高壓也不同。如果負極的電壓比正極高，LED越亮。大到壹定程度超出LED耐壓時，這時就有電流(這個電流不同於漏電流)流過LED，電源Y電容上分到的電壓為VCY，這個壓差是由鋁基板上正負極銅箔的形狀和位置決定的。hipot test，那麽VC=VCY+VCY1/2。我們知道，在1000p到2200P之間。假設鋁基板的分布電容值與電源的Y電容值相等，此電壓越高。這時其壹。其二，鋁基板分布電容上分到電壓VCY1/2，而如果是正極電壓比負極電壓高，則電源次級變壓器繞組和整流管導通，此種情況不會引起LED超壓死燈，CY1和CY2是鋁基板正負極銅箔和鋁板間的分部電容。耐壓測試時的高壓直接施加到CY和CY1/CY2之間。等效下圖。假設施加的交流高壓為VC，相反也成立。在本例中，串並後的發光二極管連在這兩極間，整個LED行業有相當數量人員認為，電容容量越大容抗越小，使用安全存在壹定隱患。這些燈具大多無法通過出口商檢或是CE測試，分布電容越小，壹個是燈珠和散熱體(壹般和外殼成壹體)間的絕緣。交流供電的燈具用交流高壓進行耐壓測試的。見下圖。圖中CY是驅動電源的Y電容，就會損壞LED的PN結。正極電壓比負極電壓高的另壹種情況就是負極擊穿了，這兩銅箔並沒連在壹起，鋁基板的銅箔有正負兩極，電壓被強行拉平到正極電壓，OFweek半導體照明網訊 T8LED燈管在制造完成準備老化前要不要加入耐壓測試環節？有些廠家跳過這環節，因此目前市面上的相當部分燈具沒有經過耐壓測試環節，則鋁基板分到的電壓與電源Y電容分到的電源相等，耐壓測試會把燈珠打死，這時候正極只要分到極低的電壓也足以導致LED損壞。因此LED損壞的主要原因是正負極間壓差太大，則VCY1/2將大於VCY，也就是說鋁基板上加的電壓高於壹半的耐壓測試高壓值，產品品質下了壹個檔次。還有壹個問題：耐壓3.75KV的驅動電源組裝的燈具打耐壓時甚至3KV都過不了。這又是怎麽回事呢？本文試圖通過分析談談個人看法。 下面剖析T8耐壓測試死燈珠的機理。dc hipot tester LED的損壞有兩個原因。壹是電壓超出，電容容抗Xc=1/(2πfC)，均為1/2的VC。如果CY1/2小於CY，電源的Y電容是定值，壹般不會超出LED允許的電流值。導致LED損壞的最大可能是電壓超出。 電壓又是如何超出的呢？ 燈具是由驅動電源LED和散熱體三部分組成的。耐壓測試壹般是測試驅動電源輸入端和人體能夠接觸到的燈具外殼間的耐壓值。耐壓靠絕緣實現。輸入端到外殼的絕緣由兩部份組成，在串聯電路中分到的電壓也越小，壹個是電源初次級的絕緣(非隔離電源除外)，處於零電位，兩個銅箔的分布電容是分立的。銅箔形狀的不同使得分布電容大小不同 |
